QFN开尔文测试接触器、SOP和QFP
慕尼黑，九月2016–山一电子介绍欧凯文测试接触器在QFN，SOP和用于实验室和试验楼QFP封装。
在薄和轻量级的军备竞赛，但仍然强大的消费类设备，如智能手机依赖于半导体元件上的敏感功能的高完整性。对于半导体制造商能够保证的功能，测试设备具有相应的功能强大。新的测试接触器欧凯文引脚确保这些元件可以测试可靠。
与yed274开尔文测试接触器系列，公司电子提供范围广泛的产品。测试接触器、欧凯文细间距引脚，可作为人工成分测试固定覆盖测试插座，而且在不同的变体，适合批量测试组件处理程序。
细间距Kelvin引脚用于QFN、SOP、QFP元件。为了确保可靠的元件焊盘合金接触，销柱塞是由硬化钢与钯和金表面。销力28gf断裂进行可靠的温度范围从- 55到+ 150氧化°C.
销的优秀服务生活的补充，对≤50MOHM接触电阻。
该测试触头材料选择来弥补更大的温度峰值。
成功的y-red®产品线模板测试接触器在实验室yed274开尔文系列包括许多有用的功能。自动化测试卷测试接触器可以适应几乎任何组件处理程序。
关于公司电子
公司是电子测试与市场领导者；烧伤在插座、连接器和连接系统。他们的可靠性和功能的可靠性是绝对必要的整体项目的成功。山一电子确立了自己在世界市场上很快为生产高品质、高要求的应用在各种市场和应用可靠的部件：半导体、工业自动化、汽车、物联网数据，测量&；测试、医疗、移动计算、嵌入式计算、及其他。
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