KOH年轻突出全三维检测解决方案在smtai 2017
KOH的年轻美国将突出其业界领先的全三维的检查方案和下一代的闭环金捷工艺优化（KPO）在SMTA国际罗斯蒙特九月19-20日，伊利诺斯。诚挚邀请会议参加者参观展台507，了解业界领先的3D测量系统和闭环工艺解决方案从KOH青年技术可以帮助提高生产吞吐量和产量。
SPI系统PCBA加工
在展会上，年轻的美国将展示业界最快的全3D测量和检测解决方案。的8030-3锡膏检测（SPI）解决方案相结合的工艺优化和分析的全三维数据的多投影云纹技术消除误报和提高吞吐量。该系统也将在美国富士407展台展示。我们还将突出我们的一个特征的旗舰aspire3设置适用于苛刻的生产环境中的种种挑战。这些系统继续提高该行业的基准标准。
AOI系统
几个KOH自动化光学检测（AOI）解决方案将补充革命性的SPI设备上显示。由三个模型组成，针对不同的生产环境，KOH年轻将强调天顶平台-世界上最畅销的和第一个完整的三维AOI平台。在天顶系列内的硬件技术和测量算法一起工作，以识别缺陷源，并提供精确的部件、接头和其他部件的检验，而不管模型如何。
金捷工艺优化
的金捷工艺优化（KPO），这是由KOH年轻智能平台的自适应学习，将伴随着一流的全三维测量解决方案。过程实时监测与打印参数相结合，积极优化工艺提高KPO的产量，使智能工厂。 ；KPO是由三个模块。打印顾问模块（PAM）使用诊断算法自动生成打印参数指南。打印机诊断模块（PDM）使用多个异常检测算法来主动优化打印过程并减少假调用。打印机优化模块（POM）使用我们的自适应学习引擎生成优化过程参数的模型。KPO提高SPI的利用率，同时提供闭环印刷过程建议许多业界领先的丝网印刷机。该解决方案将在展厅大厅和展台507的新产品展示中得到强调。
显示参与
除了展台的存在之外，她还将参加一些展会活动，包括关于智能工厂和产品可追溯性的专题圆桌讨论和访谈。此外，我们很自豪地赞助推崇SMTA国际技术会议。最后，在这两天的巡回演出期间，将着重于测试、检查和测量。旅游团提供了一个极好的机会，让他们参加以技术为中心的旅游，在没有压力的小团体中展示最新的解决方案。
“在展会上带着我们参观之后，你就会明白为什么KOH年轻已成为三维检测的首选解决方案，”胡安阿郎戈先生评论，在KOH的年轻美国董事总经理。“超过10000检测系统的安装，我们就绝对1号检验公司在世界上。” ；如果你不能参加展会展位507参观，你可以了解更多关于KOH年轻技术和一流的检测解决方案在www.kohyoung.com。
关于Koh Young
KOH的年轻科技公司，领先的三维测量技术的检测设备和解决方案提供商，执行一个重要的质量控制和过程在越来越多的行业包括：印刷电路板装配、半导体制造优化、加工及装配工艺制造，及各种医疗领域。除了汉城，韩国的公司总部，KOH年轻设有销售和支持办事处在德国，日本，新加坡，中国，和美国。本地设施确保Koh青年与我们的客户保持密切的沟通和支持，同时提供一个全球网络，以支持氢氧化钾年轻技术用户。
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