不良贷款在柔性和可穿戴电子产品可靠性测试和健身举行研讨会的目的

可穿戴电子产品包括设备范围广,包括嵌入式软包装,混合动力系统及纺织品。
通常在电子行业,国家物理实验室(NPL)可靠性测试电子组件采用高湿度和高温度作为加速因子。对于许多基板材料而言,使用高温不适合加速失效机制,以帮助预测设备的可靠性。

此外,高温并不总是反映典型(或恶劣)对可穿戴设备的操作条件,所以不良贷款已经测试这些设备选择合适的方法研究。典型的测量包括弯曲/弯曲试验、洗衣机耐久性试验、拉伸和应力测试。

不良资产正越来越多地着眼于测试设备受到组合恶劣环境,其中的测试是由多个应力因素,这是更接近现实生活中使用。理解这些测试中观察到的失效模式对于确定限制器件可靠性的薄弱环节是至关重要的。

在这一行,不良贷款将举办一个网络研讨会题为“柔性和可穿戴电子产品”的目的,测试的可靠性和适应性上星期二,2018年3月20日,下午14:30(UTC)。

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