识别伪闪存的新技术

伪造电子元件听起来像是Daniel Suarez或迈克尔·克莱顿从技术专家那里夺取的一个阴谋点,但这对我们的重要基础设施的安全性和可靠性是一个非常现实的威胁。

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M. Tauhidur Rahman教授,博士生Sadman Sakib和Preeti Kumari,助理教授Biswajit Ray博士,和博士生M.S. Bahar Talukder,UAH的电气和计算机工程系,都开发了一种新的检测伪造闪存备忘录的方法。RY使用程序擦除时间接近100%的置信度。

阿拉巴马大学亨茨维尔分校的电气与计算机工程系助理教授Biswajit Ray博士说:“现在我们使用消费电子产品已经一年左右了,但是它们的组成部分仍然保持了10年。”因此,有一种动机是通过将它们从废弃的印刷电路板上回收并重新使用,尽管它们的耐久性有限,但这些赝品组件可能会产生负面影响。

随着半导体供应链从垂直模式向水平模式转变,这一问题近年来进一步加剧。由于制造商对独立供应商的依赖性增强,“瑞博士说,”这些电子系统比以往任何时候都有更大的假冒和盗版风险。“随着造假者变得越来越精明,辨别任何一个给定的组件是否越来越难。Roistic系统是新鲜或回收的,也就是说,“直到他们停止工作,消费者责怪制造商制造一个有缺陷的产品!”

该小组在2018届IEEE国际硬件安全与信任研讨会上发表了他们的研究成果,该会议于4月30日至5月4日在D.C.华盛顿举行。

特别是高风险的伪造是闪存,一种非易失性的数字存储介质,存储在芯片上的数据。Flash是一个主要的目标,因为它存在于大多数电子系统中——它被用于从太空应用到消费电子产品的所有领域,”瑞博士说。但是,由于不同闪存芯片之间的可变性,高可靠性的回收闪光灯的检测是有挑战性的。然而,已经提出了一些可行的解决方案,以及那些依赖于维护广泛数据库或制造商愿意采用基于传感器的AP的方案。讲道。

直到现在,就是这样。瑞博士和他的同事M. Tauhidur Rahman博士和研究生Preeti Kumari、M.S. Bahar Talukder和Sadman Sakib共同开发了一种新的检测闪存的方法,该方法基于记忆的各种时序特征的统计分布。Y和故障位的数目。

研究团队的Talukder解释说:“大多数研究人员专注于失败比特数或芯片读写速度有多快,他们从不担心程序擦除时间。”但是,当失败位计数和读写时间发生变化时,程序擦除时间是最好的度量,因为它显示了最大量的变化。“它在制造商之间也更加一致,并且即使在几次程序擦除周期之后也会明显增加。”Sakib说:“我们发现,我们得到了100%的置信水平——一个衡量我们是否能够准确地检测出循环使用的记忆的决定标准——对于一个只有3%的使用率的闪光灯。”对于任何未来的消费者来说同样重要的是,这种技术是“廉价的,无损的,不需要额外的硬件”,库玛丽说,他现在正在研究测试它对温度和电压的变化。

该小组已经申请了数项专利申请以保护他们的检测方法,他们希望有一天能变成智能手机应用程序和浏览器扩展。但他们不希望从努力中获利,他们更关心帮助保护我们国家最重要的基础设施部门使用的电子系统。”拉赫曼博士说:“在关键应用程序中,闪存的失败会带来灾难性的后果,从简单地破坏系统到启用硬件木马攻击。”因此,人们对这一能力的需求量很大。

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