半导体 ATE 数字能力带到 PXI 在 #NIWeek @NIGlobal

国家文书，镍已展开其 NI PXIe 6570 数字模式仪器及镍数字模式编辑器。本产品释放射频、 电源管理 Ic、 MEMS 器件和从传统的半导体自动测试设备 (ATE) 的封闭体系结构的混合信号集成电路的制造商。

最新的半导体器件的要求常常超越了传统的 ATE 提供的测试覆盖率。通过将数字测试模式建立在半导体工业中对开放 PXI 平台用于在半导体测试系统 (STS)，和推进它与一个强大和方便用户模式编辑器和调试器，客户可以利用尖端的 PXI 仪器仪表，以帮助降低测试成本和增加吞吐量为射频和模拟中心 ICs。

“PXI 数字模式仪器是对 STS 的重要补充，因为它使半导体工程师他们否则希望找到只有在高端数字测试平台的所有数字能力”说罗恩 · 沃尔夫，倪副总统的半导体测试。”与这种能力在 PXI 生产地板上，他们可以满足价格点和试验要求的切割边缘设备同时可以轻松地扩展到他们的目录的其他部分。”

NI PXIe 6570 数字模式仪器为 ICs 常见于以经济的价位每个引脚的物联网设备与无线设备供应链提供所需要的测试能力。它具有二次模式执行每 100 MVector 与独立源和捕获引擎和电压/电流参数函数在达 256 同步数字引脚在一个单一的子系统。用户可以利用开放性 PXI 和 STS，以及他们需要满足在测试配置所需的设备 pin 和网站计数时将添加多或尽可能少的设备。

新的数字模式编辑器软件集成编辑环境设备 pin 地图、 规格和模式，速度更快; 制定测试计划内置的工具，像忍不住想要从开发到生产无缝; 扩展的多站点、 多仪器模式和像 shmoo 情节和交互式引脚视图进行调试和优化测试更有效的工具。

LabVIEW 和数字模式编辑器软件减少数据相关的努力，能够帮助用户执行相同的 PXI 硬件和性能进行测试与表征和生产试验，缩短上市时间。PXI 硬件，内部或外部的 STS 配置，小足迹生产地板上节省空间，可以从标准的墙上电源运行在表征实验室的长凳上。

“PXI 已经证明了它的硬件和软件可以成功导航生产地板和表征实验室，罕见组合”继续沃尔夫。”倪数字模式仪器和数字模式编辑器代表重要创新帮助设备制造商和测试房屋低成本的测试和改进测试程序开发。

半导体公司采用 NI 的平台和生态系统打造智能测试系统。除了生产就绪 STS 系列，1 GHz 带宽矢量信号收发器、 fA 类源测量单元和半导体模块性能进行测试，这些系统从直流到 mmWave 的超过 600 PXI 产品中获益。

它们的特点是使用 PCI 表达创 3 总线接口和亚纳秒同步触发与综合的计时的高吞吐量的数据移动。用户可以利用 LabVIEW 的生产率和性能进行测试的软件环境，以及充满活力的生态系统的伙伴、 附加 IP 和应用工程师，以降低成本的测试，减少时间到市场和未来证明测试人员对明天的挑战性射频和混合信号测试要求。