崎演示3D AOI系统在NEPCON South China

崎公司将展示其2D和3D的自动光学检测（AOI）在展位1g35在NEPCON华南系统。崎的AOI系统的独特的相位测量轮廓术技术和四方向侧相机检测QFNs，j-leads，和连接器，使最困难的缺陷检测，如取消线索，墓碑，挫折，和高度的变化，没有一个减速。NEPCON华南是于8月30日2016年9月1日在深圳公约&amp；amp；会展中心，深圳，中国。

展出的将是我们的bf-3di-l1，L尺寸的板，和bf-3di-d1，双车道。该系统测量的高度从0到20mm，从四面四方向无死角。他们使全自动化具有非常低的虚假呼叫和零逃脱。与小焊盘和零件，底电极芯片检测到故障和软件直接读取采样元件高度数据进行装配条件。

同时展出的将是崎的BF tristarii高速选择性焊锡检查同时双面检测系统。现在可以在一个简单的过程中完成两个独立的生产过程。它可以检查顶侧和底侧或通孔回流焊SMT元件在一通两侧，包括杂散零件检验。这种紧凑的机器，甚至可以很容易地安装到一个细胞生产线；

关于崎公司

自1994成立以来，崎便自动识别技术的发展，通过机器视觉技术，突破图像处理工具解决检查中存在的问题与印刷电路板装配相关的应用。崎公司总部在东京，日本与世界各地的办事处和销售及支持中心。Saki的质量管理体系和ISO 9001:2008认证标准JIS Q。