美国欧洲:在恶劣的环境中电子会议,会议3

美国宣布3届欧洲技术方案先进的测试方法在“电子产品在恶劣的环境会议”在阿姆斯特丹举行,荷兰,2018年4月25日。

杂质离子在电子组件的量化是极端重要的,特别是当最终产品的功能,在恶劣的环境中。Marietta Lemieux还将研究检测水平的离子污染困在无铅和BTC组件。数据表明,提取时间是一个重要的考虑因素时,排位赛和验证水平的生产组件的污染。

电化学失效模式随离子污染是动员在环境胁迫下板装置。对kyzen公司的Mike Bixenman博士将表征离子污染无铅元件体在目前先进的方法。数据表明,这些测试方法可以在大会现场实施了表征传入的裸板,可靠性的钎焊材料,无铅无底终止组件。

X射线技术检查中存在的空隙的使用使无损分析。David Bernard将出席在2D和3D的进展(CT)X射线检查。最近的事态发展使有限角度CT(CT)以及完整的CT算法来提高分析的清晰定位排尿问题源的使用。

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