美国欧洲：恶劣环境会议3届会议

美国宣布3届欧洲技术方案先进的测试方法在“电子产品在恶劣的环境会议”在阿姆斯特丹举行，荷兰，2018年4月25日。

电子组件上存在的离子污染的量化是极端重要的，特别是当终端产品在恶劣环境中起作用时。Marietta Lemieux还将研究检测水平的离子污染困在无铅和BTC组件。数据发现，在确定和验证生产组件污染程度时，提取时间是一个重要的考虑因素。

在环境应力作用下，当板上的离子污染被激活时，电化学失效模式增加。对kyzen公司的Mike Bixenman博士将表征离子污染无铅元件体在目前先进的方法。数据发现，这些测试方法可以在装配现场实现，以表征来料裸板、焊接材料、无铅和底端部件的可靠性。

利用X射线技术检查空洞的存在，可以进行非破坏性分析。David Bernard将介绍二维和三维（CT）X射线检查的进展情况。最近的发展使有限的角度计算机断层扫描（CT），以及使用完整的CT算法，以提高分析的清晰度，找出排尿问题的来源。