美国欧洲:恶劣环境会议3届会议

美国宣布3届欧洲技术方案先进的测试方法在“电子产品在恶劣的环境会议”在阿姆斯特丹举行,荷兰,2018年4月25日。

电子组件上存在的离子污染的量化是极端重要的,特别是当终端产品在恶劣环境中起作用时。Marietta Lemieux还将研究检测水平的离子污染困在无铅和BTC组件。数据发现,在确定和验证生产组件污染程度时,提取时间是一个重要的考虑因素。

在环境应力作用下,当板上的离子污染被激活时,电化学失效模式增加。对kyzen公司的Mike Bixenman博士将表征离子污染无铅元件体在目前先进的方法。数据发现,这些测试方法可以在装配现场实现,以表征来料裸板、焊接材料、无铅和底端部件的可靠性。

利用X射线技术检查空洞的存在,可以进行非破坏性分析。David Bernard将介绍二维和三维(CT)X射线检查的进展情况。最近的发展使有限的角度计算机断层扫描(CT),以及使用完整的CT算法,以提高分析的清晰度,找出排尿问题的来源。

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