VJ Electronix 演示改进在 IPC 先端 2016年的二代技术。

VJ Electronix,Inc.,返工技术及全球的供应商的领导者先进的 x 光检查系统,会表现出在展位 # 1834 年世博会 2016 IPC 先端,预计 15-17,2016 年 3 月在拉斯维加斯会议中心举行。该公司将展示改进后的 Micra 系统,XQuik II AccuCount 技术、 首脑会议二与顶点二。

VJ Electronix 演示改进在 IPC 先端 2016年的二代技术。最受欢迎的 Micra 被专为较小、 高性能的组件,如芯片规模封装 (CSP),包封装 (PoP) 和微被动句 (01005) 返工。增强的 Micra 提供较大的 35 毫米对齐字段的视图,扩大其应用到更多的汽车、 医疗和军事/航空航天产品范围。

VJ Electronix 演示改进在 IPC 先端 2016年的二代技术。革命性的 XQuik II AccuCount 技术帮助制造商周围世界保持准确的库存其组件辘。XQuik 系统自动计数组件小如 01005 与比 99%的准确率。这个过程只需几秒钟,和无需编程。新的 XQuik II 处理从 7 到 15″卷轴。港泉SMT

VJ Electronix 演示改进在 IPC 先端 2016年的二代技术。新的首脑会议第二是半自动的返工最新系统。改进的人类工程学结合下一代控件并证明的加热技术提供最大的性能和 flexability。首脑会议第二功能较小的足迹,但与大板能力容易调整板支持设备。增强的 SierraMate 软件将流行人性化的操作带到下一级别的简单图标驱动 GUI 以及无与伦比的灵活性,通过轻松地自定义的操作序列。

VJ Electronix 演示改进在 IPC 先端 2016年的二代技术。顶点 II 采用 x 射线成像组件的最新进展与离轴查看,都在一个较小的足迹。系统提供南军的行之有效的生产准备、 优越的正常运行时间和无与伦比的价值。顶点 II,现在 CT 已准备好,装备与标准的高对比度、 高分辨率 CMOS 数字探测器,可以配置与各种 x 射线源和可选的探测器来满足特定应用需求。

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关于 VJ Electronix

VJ Electronix,公司生产的生产准备、 自动化返工和 x 射线检测系统,许多高级功能。公司频繁地提供自定义的解决方案定制以满足特定的应用需求。VJ Electronix 是 x 射线检测和返修设备世界领先。

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