诺信嫫将显示新的 Quadra™ 7 x 射线检测系统第一次在半导体西

未来的 x 射线图像分辨率、 可靠性和性能

诺信嫫,诺信公司分工 (NASDAQ: NDSN)、 西将陈列在展位 #5844 在半导体、 定于 2016 年 7 月 12-14 日在旧金山,加利福尼亚州的 Moscone 中心。X 射线检测电子产品领域的领导者,诺信嫫将显示其第四代、 超高分辨率、 离线 MXI x 射线系统 — — Quadra™ 7 — — 第一次在美洲的。

诺信嫫将显示新的 Quadra™ 7 x 射线检测系统第一次在半导体西
诺信嫫旗舰系统,Quadra™ 7 走 0.1 μ m 的亚微米特征识别与配备两个 4k 到显示器和他们 800 万,充分体现了 50μm 像素间距,6.7MP 的像素图像大小的 Aspire FP™ 探测器。4 K 到提供了最多 4 倍详细的比较标准的高清显示屏幕和支持 68,000 X 总放大倍数。允许您查看亚微米级功能而不会丢失细节。

其内部的专有 QuadraNT™ 管,Aspire FP™ 探测器,Gensys™ 检测软件和 QuadraGen™ 电力供应,诺信嫫介绍了 x 射线图像分辨率、 可靠性、 性能和吞吐量与新的 Quadra™ 系列的未来。

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