ICT的测试精度与测试盲点

根据在工程实践中的经验， 对于性能良好的ICT，且针床制作及保养良好的条件下，ICT的测试容许误差的上下限可以设定为：

1，精密电阻（1%的标称误差）设为3%至5%；一般电阻（5%的标称误差）设为7%至10%；
2，精密电容（5%的标称误差）设为10%-15%；
3，一般电容（20%的标称误差）设为25%-30%；电感可在标称误差的基础上再加3%至10%；
4，二极管一般设定为30%-50%；
5，三极管的饱和压降一般只须比较上限，实际上由标准值决定，上限误差设为1%即可。下限可设为0。因为0即表示不做比较判定（不必担心短路问题，因为如果三极管短路，在开短测试时就已被测出），

备注：而如果三极管工作于放大状态，我们建议在驱动电流栏上设定其设计的静态电流值（因为放大倍数受工作电流影响），然后测其放大倍数，由于不同的电路对三极管的放大倍数的离散性要求不同，因此，放大倍数的上下限可设范围很大。比较可靠的数据应由试验得出。另外，在进行二极管测试时，不管是真正的二极管，还是三极管的BE及BC结，或是IC的保护二极管，以及其它有源器件可以使用单向导电特性去侦测器件的好坏及方向是否放反的，我们建议都使用正反向双重测试，虽然增加了一个步测试步，但能保证测试是真测。如果调试时正反向的电压值的差的百分比小于设定的误差值，则可以一眼看出这一器件的测试无效，必须调整测试方法或测试参数，务必做到正反向的电压值的差的百分比大于所设定的误差值。如果做不到，则应将该器件列入不可测元件表，提醒工程人员安排进行目检。 

二、ICT测试的盲点：（就是ICT无法准确测量的零件）
1，当小电容与大电容并联时，小电容无法准确测量。
2，当小电容与小电阻并联时，小电容无法被准确测量。
3，当大电阻与大电容并联时，大电阻无法被准确测量
4，当小电感同二极管并联时，二极管无法准确测量